2013年4月30日火曜日

4月まとめ

・FD/FI(GCv)
ずっと使っていたDB-1HTでGCFIを行うとクロマトがテーリング気味だった.
エミッターの焼き出しが不十分だと考え,焼きだし時間を長くした.
これに合わせて,スペクトル記録間隔(積算間の待ち時間)を長くした.
同じGCの条件でGCEIを測定すると,同様にテーリング気味だった.
カラムを変えてDB-17HTにしてもテーリング気味で,注入口を疑った.
注入口ライナー,金シールが目に見えて汚れていたため,交換した.
それでも改善しなかったことから,カラムが劣化していると判断した.
ある濃度より下がるとテーリングだけでなく,極度の強度低下があった.
カラムが劣化しているとすると,この強度低下も説明が付く.

極性の高いrutinやsucroseを高温(80℃)で測定したが,
フラグメントの量は変わらなかった.
NaIを添加するとフラグメント化を抑えることができたが,
[M+2Na+I]+も弱いながら出た.

DB-1HT(0.25mm,30m)の注入口側を外して,
末端をサンプルチューブにかざすことでヘッドスペースの測定を試みた.
CHCl3は問題なく測定できたが,
mentholは一向に出てこず,カラムをオーブンで加熱する必要があった.


・MALDI(Voyager)
分子酵素から基本的な使用法を教わり,その後,試薬を測定してみた.
基本的には希釈した溶液をエッペンで混合して,そこから1ul未満をスポットした.
ピペットマンP20は最少で2ulしか量れないため,2ulの設定で軽く押すようにした.
サンプル量が少ない場合は,ulレベルの溶液をパラフィルム上で混合して,
そこから一部をスポットした.

分解能はレーザー照射の仕方によって大きく変わった.
照射位置をずらしながら積算していくと,
常に新しい結晶を使えるため強度は出るが,ピークがブロードになり,分解能が落ちる.
ある地点を照射し始めてしばらくは爆発的にイオンが出る.
このときもピークが若干ブロードになり,分解能が落ちる.
数スキャン空打ちしてから積算を始めると安定したピークが得られ,分解能が上がる.

ダマになった大きな結晶を使うと,3Daほど小さく出た.
大きな結晶だと強度が出やすいが,使ってはいけないようだ.

default calibrationを用いた場合,
m/z 1000程度ではどの条件でもずれが1Da未満だった.
m/z 5000程度では条件によっては10Da以上ずれていた.

PEGを測定してキャリブレーションに使おうと試みた.
PEG3350まではうまく測定できたが,PEG6000は弱く,また,ベースライン分離しなかった.
m/z 4000弱まではキャリブレーションに使えそうだった.
ペプチドに比べて強度が出にくく,照射位置を固定して十分な強度を得ようとすると,
大きめの結晶を使うことになってしまう.
大きな結晶を使うと前述のように横軸がずれるので,キャリブレーションに適さない.
間隔の広い混合物を使うと,生成するイオン量が同じ場合に各ピークの強度が上がる.
質量ベースで炭素の割合が低いほどモノアイソの相対強度が高くなる.
モノアイソの相対強度が高いものを用いて,モノアイソでキャリブレーションをしたい.

同位体分離していないと重心値の算出と正しい計算値の算出が難しい.
同位体分離しておらず左右非対称の場合,その重心値をどう扱えばいいのかわからない.


ピペッターを使わず,ピペットキャップを使うと
キャップを押しすぎて噴き出す場合がある.
ピペッターを使っている限り,空気を吐き出す心配がない.

エアコンの設定を変えると,ピークがとても弱くなった.
以前の設定は冷房,22℃,風速強だった.寒かった.
試しに冷暖自動,24℃,風速自動にしてみた.暑かった.
結局,冷房,22℃,風速自動にした.
次にメンテナンスがあるときに室温を(冷房,24℃程度に)変更することにする.


・持ち越し
SXで測定中にQ1,2がずれる.

GCvでFDの測定時にデフレクタバランスがずれる.
 サンプルを載せるときにワイヤーが動くのか
 カソード電圧のOFF→ONで動くのか
 たるみのないエミッターにすることで回避できるか
  EIのフィラメントと同様に,初めて電流を流すときに穏やかにするとどうか

HP-5でテーリングが起きるか確認する.

FDでフラグメントが強いサンプルをMALDIで測定してみる.
 ヘテロ原子の少ない低極性化合物
  ラジカルが発生しないため,フラグメント化を防げると期待

MALDIでキャリブレーションに使える糖,ペプチドを探す.
 三糖の繰り返しで約500Da刻みになるpullulanはどうか
 キャリブレーション作成時と異なる条件(レーザー,マトリックス,測定範囲など)でのずれ


2013年4月25日木曜日

エミッター活性化(3回目)


4/11真空引き,準備
のぞき窓とお釜の底の土台を磨いた.

4/23~25活性化

値付け
アセトンを使ったイオン化効率の評価(基準のエミッターを12万としたときで単位は万)
1:18
2:9
3:
4:16
5:23
1はのぞき穴が付いている場所
2→5は1から時計回り(アクチベーターから取り出して上を向けた状態で)

初期過程を始めたところで誤って電源を切った.
その後,電源を入れた際に,急に33mA流してしまった.

取り出してみると3番が切れていた.
中心部でもウィスカーが密集しておらず,とびとびで生えていた.

2013年4月13日土曜日

エミッターの消耗

エミッターには微小細針があり,これがイオン化に必要な高電界を生んでいる.
エミッターの使用によりその細針は消耗していく.
消耗には,細針の数の減少と,各細針の鋭利さの低下がある.

消耗したエミッターを使うとイオン量が少なく,フラグメント化が強くなる.

-細針の数の減少
-各細針の鋭利さの低下
  Lイオンの生成による
  L電流の通電による

・細針の数が異なる新品のエミッター間で比較
・イオン生成や通電の前後のエミッターの状態を顕微鏡で観察

2013年4月11日木曜日

エミッター活性化(2回目)


4/4真空引き,準備
4/9~11活性化
大きな失敗は無かった.

値付け
アセトンを使ったイオン化効率の評価(基準のエミッターを12万としたときで単位は万)
1:22
2:22
3:22
4:16
5:22
1はのぞき穴が付いている場所
2→5は1から時計回り(アクチベーターから取り出して上を向けた状態で)

1400℃にする過程は45 mAで一瞬に留めた.

2013年4月9日火曜日

チューニング

チューニングはすべてリザーバーから導入したガスをFIでイオン化させて行っている.

m/z 207, 222, 281, 355, 429のいずれか
ドリフト補正に用いるcyclosiloxane混合物をそのまま使用する.
五量体,六量体は沸点が高く,エミッターに残りやすい.
強度が下がっていく中で手早くチューニングするか,頻繁に焼きだしをする.

m/z 281
cyclosiloxaneの四量体だけを使用する.
エミッターへの吸着はほとんどない.
m/z 281はEIでもチューニングに使用する値なので,ピーク形状の比較ができる.

m/z 58
アセトンを使用する.
イオン化効率が極めて高い.
エミッターへの吸着はない.
実際に測定する質量範囲よりかなり低質量である.

2013年4月4日木曜日

α-cyclodextrin

C36H60O30
単同位体質量:972
boiling point:℃

スペクトル
m/z 995:[M+Na]+

エミッター活性化(1回目)

真空引き,準備が済んでいる状態から開始
4/2~4活性化
2日目の夕方,エミッター電流を2 mA / hrで上昇させるのを忘れてしまった
3日目の朝,活性化を中止しFI用エミッターとする.


値付け
アセトンを使ったイオン化効率の評価(基準のエミッターを12万としたときで単位は万)
1:14
2:26
3:37
4:32
5:21
1はのぞき穴が付いている場所
2→5は1から時計回り(アクチベーターから取り出して上を向けた状態で)

2013年4月3日水曜日

hexane

GC/FI
C6H14
質量:86
boiling point:℃

スペクトル
m/z 86:M+・

2013年4月2日火曜日

trityl glycidyl ether

GC/FI
C22H20O2
質量:316
boiling point:439℃
m/z 316:M+・